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電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉變的情況下檢驗產(chǎn)品的各項性能指標。升級版立式恒溫恒濕試驗箱-60~+150℃廠家
聯(lián)系電話:0769-81085066
品牌 | 廣皓天 | 高溫室 | +60℃→+150℃ |
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低溫室? | ?-60℃→-10℃ | 升溫時間? | 升溫+60℃→150℃≤25min |
降溫時間 | ?+20℃→-60℃≤60min | 溫度沖擊范圍? | ?(60℃→-150℃)→(-40℃--10℃) |
溫度波動度 | ?±0.5℃ | 溫度偏差? | ±2.0℃ |
電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱
結構特證
1.機箱材質
a.外箱材質:優(yōu)質冷扎鋼板靜電噴塑。
b.內(nèi)箱材質:鏡面不銹鋼板。
c.保溫材質:高密度PU硬質發(fā)泡。
d.外箱底座:國標角鐵 國標槽鋼 特殊防銹處理之電解板噴塑。
2.試驗機箱門:單片門×1套,左開,把手在右手邊。
a)材 質:不銹鋼(SUS#304)。
b)把 手:不銹鋼把手。
c)后 鈕:SUS#304。
d)窗 口:340×450×20(mm)三層真空玻璃層。
e)測 試 孔:機體左側50mm孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。
3.送風循環(huán)系統(tǒng):a.馬達:AC220V 60W1臺或多臺加長軸心。
b.風扇多翼式扇葉(SIROCCOFAN)。
電腦散熱器芯片測試設備冷熱沖擊試驗箱
執(zhí)行與滿足標準
1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件。
2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件。
3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。
4.GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗。
5.GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗。
6.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫。
7.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫。
8.GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分:濕熱試驗華臺儀器主營產(chǎn)品。
9.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗。
10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))。
性能特點:
1、氣動式閥門方便開啟,***氣密及斷熱保護;
2、試驗槽靜止,可由測試孔外加負載配線;
3、蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害;(注:液態(tài)氣體所產(chǎn)生的廢氣,吸入肺部致使肺部氧氣量減少,而產(chǎn)生工作倦怠,注意力不集中等)
4、溫度控制精度高,全部采用PID自動演算控制;
5、可選擇始動位置,高溫或低溫開始循環(huán);
6、具有預約起動功能;
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